加速科技助力青芯半导体，Mini-ATE三天跑通NPI
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加速科技Mini-ATE实验室验证方案，正重新定义芯片NPI导入效率——在近期与青芯半导体的合作中，该方案助力其自研的国产首款超大规格交换芯片WLG5144（144 Lane PCIe 5.0 Switch）及LBG5016（PCIe 5.0 Retimer）验证，实现FT程序仅3天跑通第一版，将NPI关键路径从“数月”压缩至“三天”。
目前，两颗芯片已锁定2026年9月正式量产，加速科技将持续为其规模化交付提供高效测试保障。
1、青芯&加速科技的NPI测试方案：双线并行
青芯半导体研发的WLG5144——国产首款超大规格交换芯片，144 Lane PCIe Gen5 Switch，12nm 工艺，99ns 直通延迟，4KB 最大载荷。同期还有PCIe 5.0 Retimer 芯片 LBG5016。两款芯片，面向 AI 集群、高性能计算，是基础设施级别的核心器件，测试复杂度可见一斑。
面对两颗高价值芯片的NPI测试需求，青芯没有选择被动等待传统ATE的排期，而是制定了一套双线并行的NPI测试策略：
芯片回片后，青芯直接启用加速科技Mini-ATE桌面级测试设备，在实验室内快速完成初步筛片与功能验证。与此同时，团队同步联合专业封测厂启动量产测试硬件设计与FT程序开发。两条线并行推进——实验室里的Mini-ATE负责“抢跑”，量产线则按部就班准备，互不等待，互不牵制。
NPI 阶段的快速筛片和大规模量产 FT 测试有本质区别。快速筛片不需要 100% 的测试覆盖率，不需要上千通道的并行测试能力。它需要的是——快。快的前提，是有一台随时可用的设备和一个能直接迁移到量产线的程序——这就是 Mini-ATE 的定位。
最终结果：真正上机时，FT程序仅三天就跑通第一版。而这一环节在传统NPI流程中，行业普遍需要数周。
2、Mini-ATE：桌面级部署，重新定义NPI节奏
青芯方案之所以能跑出这样的速度，核心在于Mini-ATE本身的设计理念——它不是为了取代大型ATE，而是专门解决NPI阶段“排不上、等不起”的痛点而生的轻量化设备。
Mini-ATE“价值”集中体现在四个层面：
第一，快速筛选——芯片回片后无需等待排期，在实验室里即刻上机，第一时间完成初筛和功能验证，把“等设备”变成“等数据”，让研发团队不用把时间耗在排队上。
第二，硬件级验证——Mini-ATE在架构与接口层面高度对标产线ATE，可摒弃纯软件仿真的传统路径，直接对测试向量进行硬件级验证与调试，能够在实验室环境中精准模拟真实测试场景。
“这套基于硬件的测试向量验证方法学，已成为青芯DFT验证流程的关键支柱。它不仅压缩了验证周期，更重要的是——同一套开发环境、同一套API，一致的硬件架构，显著提升了芯片量产测试的一次通过率与整体良率。”
第三，双线并行——Mini-ATE上做验证的同时，量产程序开发同步推进。传统串行流程变成并行流程，关键路径大幅压缩，这也是青芯能将FT跑通周期从数月缩短至三天的重要原因。
第四，无缝迁移——在Mini-ATE上完成调试和验证的测试程序，可直接迁移至量产线的大型ATE，无需二次开发。从 Mini-ATE 到 ST2500 到 Flex10K-L，所有产品线运行同一个 ST-IDE 集成开发环境，同一套 C/C++ API 接口库。硬件采用模块化设计，核心板卡和总线架构保持一致。在 Mini-ATE 上调通的 FT 程序，可以直接在量产机台上编译运行——不是"转换工具"，是架构一致。拿来直接用。这意味着NPI阶段的所有前期投入都不会浪费，从实验室到量产线，代码“一次编写，处处可用”。
这四点环环相扣：先快速筛选抢出时间，硬件级验证精准模拟真实测试场景，再双线并行压缩路径，最后无缝迁移实现从实验室到量产线的平稳过渡。青芯半导体的实践已经验证了这一路径的可行性——三天跑通FT，从“数月”到“三天”，Mini-ATE带来的不只是时间缩短，更是NPI流程的重构。
任何测试方案都有边界，青芯与加速科技的协同给出了教科书级答案，Mini-ATE不是万能的，但它与量产ATE的协同，让NPI阶段几乎没有盲区。
加速科技的布局，从不止于一款设备。从 2019 年 ST2500 系列（250Mbps），到 2023 年 Flex10K-L（1.2Gbps），到 2024 年突破 2.7G 高速数据接口测试技术——覆盖约 70% 的通用芯片市场和显示驱动等高端领域。800+台工业客户装机量，百余所高校合作，每年约 500 名测试工程师输送。"设备 + 服务 + 人才"三位一体，降低的不只是设备成本，而是国产方案的总采用门槛。
3、NPI需要的不是最贵的ATE，而是最匹配的方法
WLG5144和LBG5016已锁定2026年9月正式量产。从回片到FT程序第一版跑通，3天；从实验室验证到产线程序无缝迁移，0磨合。
桌面级 Mini-ATE 完成功能验证 → FT 程序零成本迁移至量产线 → 筛片快速跑通 → NPI 周期压缩。
这套双线并行方法论的适用对象，不只是 PCIe 芯片。所有做 AI/GPU 等先进工艺 ASIC 的公司，面对的是同一个困局。设计公司需要的，不是一台更贵的ATE测试设备。是一套更快到达量产的方法。
加速科技 × 青芯半导体，已经给出了答案。
4、关于WLG5144与LBG5016使用的Mini-ATE
从硬件配置来看，Mini-ATE采用All-in-One业务板卡设计，单板卡集成32通道DIO（125MHz/250Mbps数据速率）、4通道DPS（±1A，-3.25V~8.4V）、32通道PPMU（±40mA，-2V~6.5V）以及4通道BPMU、4通道TMU等测试资源，系统支持级联扩展。其体积小巧、噪音低，可放置在办公桌面使用。
在软件层面，Mini-ATE搭载ST-IDE集成开发环境，提供基于C/C++的接口函数库、逻辑分析仪功能（无需外设）、离线开发模式及参考用例库。支持WGL/STIL/VCD等仿真文件转换。此外，Mini-ATE在资源种类、功能指标精度、开发环境、调测工具与加速科技ST2500系列量产测试平台完全一致，实验室开发的测试程序可直接运行于量产机台，减少了从实验室到量产阶段的重复开发工作。
在应用场景上，Mini-ATE主要覆盖两类需求：其一是设计公司的实验室验证，包括工程验证、DFT分析、可靠性测试及SLT测试环境搭建，也可配合软件系统作为源表、数字信号发生器、逻辑分析仪、烧录器等设备使用；其二是面向引脚数较少的数字/数模混合芯片的低成本FT量产测试。
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