系统介绍
ST2500EX高性能数模混合信号测试机
ST2500EX是高性能数模混合信号测试系统，支持1024数字通道配置。该系统硬件结构采用Direct Docking连接方式，可以兼容J Type针卡，降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性，可搭载无线综测仪、RF测试模块及各类高性价比解决方案。
应用场景
ST2500EX高性能数模混合信号测试系统可以广泛应用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
目标器件
产品关键特性
系统支持250Mbps/500Mbps（差分、500mV）数据速率
单机头最高可配置32块板卡，用户可以根据测试需求灵活配置板卡
可以兼容J Type针卡，降低客户转平台治具成本
提供配套公用loadboard，可以缩短客户产品硬件开发周期
系统采用Direct Docking连接方式，增加晶圆测试稳定性
系统集成ST-IDE软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具 (AWG、DGT、Pattern、LA等)，降低产品开发调试到量产交付生产周期
配套丰富的pattern转换工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern，同时支持友商平台pattern转换，有效提高调试效率
针对工厂量产提供专门GUI，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
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