系统介绍
ST5000系列高性能数字混合信号测试系统
为了更好地满足客户高性能、高稳定性的芯片封装测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。
该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，最高支持1024数字通道配置、1Gbps速率传输，Pattern Rate 支持250Mhz。硬件结构采用Direct Docking连接方式，兼容Jtype针卡，最大程度降低客户转平台治具成本。配套设计的公用loadboard，可以极大缩短客户产品硬件开发周期。ST5000还具有灵活的可扩展性，为后期蓝牙测试模块、RF测试模块及各类高性价比解决方案奠定了良好基础。
ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试，提供专用的工厂界面，并拥有丰富的数据记录和分析工具。
产品优势
应用场景
CIS、指纹芯片、LDO、PMIC、CPLD、FPGA、Audio等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。
目标器件
产品关键特性
采用数字混合架构，单板集成数字、模拟混合信号测试功能，支持250/500MHz时钟频率，500Mbps/1Gbps数据速率
DFB32H业务板支持32路数字通道，每通道含独立PPMU模块，4机台级联，最大支持1024路数字通道1024sites并测
每通道192M Vector存储深度，SCAN模式单SCAN Chain高达3GB，高速通信架构，Pattern加载及测试过程中 的动态修改以广播方式下发，提高并行测试效率
突破传统Format限制，由用户自定义波形，128组timing set、1024组edge set、6edge可调，输入输出自由转换，大大减少程序开发限制
DFB32H业务支持4路DPS（+8.4V/-3.25V电平设定，驱动电流500mA），电源支持Gang Mode
DFB32H业务板支持4路100MHz TMU，1路2MSPS 16bit AWG，1路1MSPS 16bit Digitizer
通信系统标准，超负荷硬件自测系统，保证系统超长时间稳定运行
ST-IDE软件提供基于Eclipse的IDE开发环境，支持基于C/C++的开发，提供各种开发工具和调试工具
支持单板4通道20V@500mA高压输出及测量
支持单板8通道高精度LFAWG功能，THD最高-130dBc, SNR最高112dB
支持单板8通道高精度LFDGT功能，THD最高-115dBc, SNR最高105dB
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