行业测试挑战
方案概述
存储芯片测试方案概述
针对存储类芯片测试，加速科技推出针对大中小不同芯片容量的测试方案：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX应对中小容量存储芯片测试，可分别支持512至1024路数字通道，对于市场上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存储器有着良好的支持。适合的DIO通道与电源、高压源配比，模块化的资源，使得多site扩展简单易行。高容量向量深度，可满足中小容量存储芯片的存储功能测试。系统、各模块间高速通信带宽，算法硬件调度，可有效提升测试效率。
Flex10K-M系列是针对FLASH/EEPROM/SRAM等存储类芯片测试研发的大容量高密度数字测试系统，系统可以提供多达2560数字通道，768DPS通道，支持ALPG算法，可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片测试。
方案介绍
核心优势
CORE ADVANTAGES
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