系统介绍

ST2500EX高性能数模混合信号测试机

ST2500EX是高性能数模混合信号测试系统,支持1024数字通道配置。该系统硬件结构采用Direct Docking连接方式,可以兼容J Type针卡,降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性,可搭载无线综测仪、RF测试模块及各类高性价比解决方案

ST2500EX高性能数模混合信号测试机

应用场景

ST2500EX数模混合信号测试系统可以广泛应用于 SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、PMIC等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试

目标器件

产品关键特性

系统支持125MHz/250Mbps数据速率

单机头最高可配置32块板卡,用户可以根据测试需求灵活配置板卡

可以兼容J Type针卡,降低客户转平台治具成本

提供配套公用loadboard,可以缩短客户产品硬件开发周期

系统采用Direct Docking连接方式,增加晶圆测试稳定性

系统集成ST-IDE软件提供用户友好的开发环境,丰富的开发和调试工具 (AWG、DGT、Pattern、LA等),降低产品开发调试到量产交付生产周期

配套丰富的pattern转换工具,方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern,同时支持友商平台pattern转换,有效提高调试效率

针对工厂量产提供专门GUI,数据实现显示监控,提供丰富的数据记录分析工具,支持定制化工厂系统连接方案,方便批量测试和对接工厂管理系统

智能软硬件监控系统,提供故障代码,精确定位软硬件故障位置

系统配置

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置

相关解决方案

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根据多年测试产业积累,结合实训人员的特殊性推出了标准化的集成电路测试工程培训方案。

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