系统介绍
ST2500系列高性能数字混合信号测试系统
ST2500是高效率系列数模混合信号测试系统，该系列依据系统资源配置又分ST2516、ST2532、ST2564三款产品，可以实现32~1280个数字通道灵活组合配置，实现最高机器利用率。对于特殊的测试需求，该系统还支持扩展更多的测试板卡及模块，如SMU、HRAWG、HRDGT、BlueTooth、WiFi等测试模块等。
应用场景
ST2500系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于S0C/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、ClS、指纹芯片、PMIC、Bluetooth、WiFi、loT等半导体晶圆、器件测试和模块系统级测试。
目标器件
产品关键特性
支持多机头级联，单机头可实现160-640通道，级连最高可实现1280通道，根据客户产品需求，实现最高机器利用率
系统支持250Mbps线缆连接模式，极大节省系统成本
系统集成的ST-IDE软件提供用户友好的开发环境，丰富的开发和调试工具，方便客户进行测试程序快速调试
配套丰富的pattern转换工具，方便WGL、STIL、VCD等仿真文件转换为测试机pattern，同时支持友商平台pattern转换，有效提高调试效率
针对工厂量产提供专门GU1，数据实现显示监控，提供丰富的数据记录分析工具，支持定制化工厂系统连接方案，方便批量测试和对接工厂管理系统
智能软硬件监控系统，提供故障代码，精确定位软硬件故障位置
系统配置
根据测试资源要求，通过模块扩展，可以满足资源场景配置。
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