存储芯片测试方案

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发展趋势

•   新兴领域需求广泛,消费电子、物联网及汽车电子需求增长

•   嵌入式NOR Flash需求维持发展

•   竞争激烈,快速完成验证并导入量产,推向市场

•   价格低廉,低成本高效率测试方案

•   产品生命周期长


方案概述

•   Per-pin PMU供电模式,最大化并测

•   动态负载模拟I2C上拉电阻,减少外围元件

•   大容量Pattern Memory,满足中小容量flash全地址读写

•   125MHz/250Mbps DIO功能向量,满足高速读写需求

•   High-Voltage数字输入,满足高编程及trim需求


核心优势

•   逻辑、软件特别优化,并测效率提升30%以上

•   定制化repair功能,应对不同客户需求

•   模块化设计,软硬件无缝转化多工位量产测试

•   DIO双指令集,高效trim修调测试


存储芯片测试方案


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