MCU/SOC测试方案

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发展趋势

•   应用场景广泛,智能控制核心,物联网及汽车电子需求快速增长

•   品质需求日益严苛,测试需求更多功能覆盖

•   竞争激烈,快速完成验证并导入量产,推向市场

•   低成本高效率测试方案


方案概述

•  125MHz/250Mbps DIO功能向量验证

•   大容量向量,scan模式,支持DFT测试

•   Per-pin DSIO功能提供AD/DA测试功能

•   High-Voltage数字输入,提供嵌入式memory测试条件

•   Per-pin TMU测量功能,方便AC参数测试

•   板载AWG/DIG提供混和信号测试功能


核心优势

•   All-in-One设计,IO通道与其他资源配比1:8,完全并行测试

•   模块化设计,单芯片调试通过后,软硬件无缝转化多工位量产测试

•   DIO双指令集,高效trim修调测试


MCU/SOC测试方案


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