发展趋势
• 应用场景广泛,智能控制核心,物联网及汽车电子需求快速增长
• 品质需求日益严苛,测试需求更多功能覆盖
• 竞争激烈,快速完成验证并导入量产,推向市场
• 低成本高效率测试方案
方案概述
• 125MHz/250Mbps DIO功能向量验证
• 大容量向量,scan模式,支持DFT测试
• Per-pin DSIO功能提供AD/DA测试功能
• High-Voltage数字输入,提供嵌入式memory测试条件
• Per-pin TMU测量功能,方便AC参数测试
• 板载AWG/DIG提供混和信号测试功能
核心优势
• All-in-One设计,IO通道与其他资源配比1:8,完全并行测试
• 模块化设计,单芯片调试通过后,软硬件无缝转化多工位量产测试
• DIO双指令集,高效trim修调测试

