产品名称

ST2532

产品类别: ATE


ST2532


系统介绍

测试机作为半导体测试环节的核心设备,其成本和测试效率直接影响了IC的生产成本。随着半导体芯片在中国生产制造规模扩大,SiP的大量推广,单颗芯片集成越来越多功能,高性能可扩展的数模混合信号测试机就显得非常重要。


加速科技推出国内第一台250Mbps高性能数模混合信号测试系统,采用先进的系统架构,借鉴高速通信技术,集成度高,功能强大,扩展性强。单机台支持5个功能槽位,根据不同应用场景可以配置各种数字、模拟、数模混合等业务板卡,系统最大可以支持8机级联,40个功能槽位。DFB32业务板采用先进的FPGA实现,单板集成数字模拟混合信号功能,包含32个250Mbps数字通道,4路DPS,4路100MHz TMU,1路2MSPS AWG,1路1MSPS DGT,全硬件实现Pattern下发和系统调度,无阻塞全并行测试,测试效率极高。


ST-IDE软件提供用户友好的集成开发环境,丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序开发。针对工厂批量测试,提供专用的工厂界面,并有丰富的数据记录和分析工具。我司同时提供客制化工厂系统连接方案,方便批量测试和管理。


系统配置

根据测试资源要求,通过模块扩展,可以满足资源场景配置


ST2532:320数字通道,320PPMU通道,40DPS

ST2532 高性能数字混合信号测试系统


产品关键特性

• 采用数模混合架构,集成数字、模拟混合信号测试功能,支持125MHz时钟频率,250Mbps数据速率

• DFB32业务板支持32路数字通道,每通道含独立PPMU模块,8机台级联,最大支持1280通道1280sites并测

• 每通道192M Vector存储深度,高速通信架构,提高并行测试效率

• 突破传统Format限制,由用户自定义波形,支持1024组timing set,4edge可调

• DFB32业务板支持4路DPS(+8.4V/-3.25V电平设定,驱动电流500mA),电源支持Gang Mode,单机台最高支持20路DPS

• DFB32业务板支持4路100MHz TMU,1路2MSPS 16bit AWG,1路1MSPS 16bit Digitizer

• 通信系统标准,超负荷硬件自测系统,保证系统超长时间稳定运行

• ST-IDE软件提供基于Eclipse的IDE开发环境,支持基于C/C++的开发,提供各种开发工具和调试工具


模块系统规格


ST2532


软件功能

ST-IDE软件提供一整套基于Windows系统的集成开发软件,用于创建测试方案及开发调试,软件GUI界面设计简洁,布局合理,使用方便。根据不同登陆用户灵活切换应用场景,集成了AWG、DGT、Pattern等开发调试工具,可以方便用户开发调试。


开发界面

• 内置文本编辑器(Editor)与集成开发环境(IDE),丰富的自定义快捷键,提高开发效率

• IDE支持代码高亮、智能编辑,代码输入过程中自动补充方法或类,提升编码速度


ST2500高性能数字混合信号测试系统











• Debug功能强大,支持日志本地保存,便于问题排查分析

• 内置资源管理,AWG/DGT/RVS/DPS/PPMU/ DIO/CBIT/Pattern配置管理和调试工具,方便开发和调试


ST2500高性能数字混合信号测试系统


工厂界面

• 实时动态显示测试结果,可根据客户需求后台设定良率目标,当良率低于目标时,机台自动报警或报警后停机


ST2500高性能数字混合信号测试系统


• 测试数据支持自定义格式导出,支持txt,csv及STDF。软件支持标准STDF文件解析及初始统计数据分析

• 测试过程实时监测机台状况,发现异常自动报警提示

• 测试记录定期自动清理,清理前自动提示备份测试数据


Pattern工具

• 提供GUI界面完成Pattern编辑、存储、下发、调试


ST2500高性能数字混合信号测试系统


• 支持Pattern波形化显示,方便与VCD波形对比检查

• 支持将原始STIL,VCD、WGL等多种格式波形文件转化为测试系统可读取的Vector

• Pattern工具支持微指令技术,使Pattern操作由繁变简


ST2500高性能数字混合信号测试系统












应用场景

ST2500系列数模混合信号测试系统可以广泛应用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、CPLD/FPGA、CIS、指纹芯片、PMIC、PA、射频开关、滤波器等半导体晶圆、 器件测试和模块系统级测试。


ST2532



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2020 - 12 - 21
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