校招

发展趋势

应用场景广泛

物联网及汽车电子等需求快速增长

需求严苛

品质高、功能覆盖全

竞争激烈

需要快速完成验证并量产,及时推向市场

低成本高效率

对成本及效率的需求不断提高

方案概述

125MHz/250Mbps DIO功能向量

满足高速读写需求

大容量向量

scan模式,支持 DFT测试

Per-pin DSIO功能

提供AD/DA测试功能

High-Voltage数字输入

提供嵌入式memory测试条件

板载AWG/DIG提供

混和信号测试功能

核心优势

CORE ADVANTAGES

All-in-One设计

IO通道与其他资源配比1:8 完全并行测试

模块化设计

单芯片调试通过后,软硬件无缝转化 多工位量产测试

DIO双指令集

高效trim修调测试

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