校招

发展趋势

新兴领域需求广泛

消费电子、物联网及汽车电子需求增长

嵌入式NOR Flash

需求维持发展

生命周期

产品生命周期较长

竞争激烈

需要快速完成验证并量产,及时推向市场

质优价廉

低成本高效率测试方案

方案概述

Per-pin PMU供电模式

最大化并测

动态负载模拟I2C上拉电阻

减少外围元件

大容量
Pattern Memory

满足中小容量flash全地址读写

125MHz/250Mbps DIO功能向量

满足高速读写需求

High-Voltage数字输入

满足高编程及trim需求



核心优势

CORE ADVANTAGES

逻辑、软件特别优化

并测效率提升30%以上

定制化repair功能

应对不同客户需求

模块化设计

软硬件无缝转化多工位量产测试

DIO双指令集

高效trim修调测试

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